PPK与CPK的差别是什么
只是标准差计算不一样？过程稳定的差异？
或者说哪个是潜在的能力指数？ CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））
Cpk——过程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；
8. 依据公式： ， 计算出制程准确度：Ca值
9. 依据公式：Cp = ， 计算出制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp ， 计算出制程能力指数：Cpk值
11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级
C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
PPK是短期过程能力，即初始过程能力，一般是在初期时确认过程是否稳定，如果大于1.67即可转入长期过程能力管理CPK，至于CMK的计算方法是与PPK一样的，前提是将模具与设备作为一个整体，即必须使用合格的模具，以排除设备以外因素的影响..
SPC.net属于一个统计制成管制系统，是基于B/S架构利用同Microsoft推出的新一代ASP.net脚本语言开发的全新的统计制成管制系统。它顺应微软.net战略。即在任何地方，任何时候、利用任何工具都 可以获得网络上的信息，并享受网络通信所带来的便利性。
简单地说，运用Spc.niet统计制程管制系统，可以不受时间、空间地或、条件的限制，不产生新的网络系统维护因扰，没有新的程式安装，实现公司各阶层主管对制程中的品质状况进行及时、有关效地了解和监控与指挥，为保证品质、提升品质方便工作的及时改进。
----转载过来的... CPK:短期过程能力指数
PPK:长期过程能力指数 2楼讲那么多干嘛呀，Cpk只考虑子组内变差，Ppk考虑的是总变差，从sigma算法上可得知 二楼楼主讲的还是挺有道理的。要是能有实例就好了 还是没有说明实质的区别，
计算方法区别？抽样方法区别？ 还是没有说明实质的区别，
计算方法区别？抽样方法区别？ CPK:短期过程能力指数
PPK:长期过程能力指数
与2#相反，对吗？？ 同意三楼的
CPK短期过程能力指数，必须是在过程稳定的前提下计算
PPK长期过程能力指数，又叫性能指数，它的计算不管过程是否处于稳态；
DPK瞬时过程能力指数，指的是计算依据的数据的当时的过程能力，与过程是否稳定也无关；
以上是三种状态下计算过程能力指数的表示；公式结构差不多，区别在西格玛的估计值的计算。 4楼说的是对的。 ........ 我同意4楼的说法，简单明了。。。。 PPK是短期过程能力，即初始过程能力，一般是在初期时确认过程是否稳定，如果大于1.67即可转入长期过程能力管理CPK，至于CMK的计算方法是与PPK一样的，前提是将模具与设备作为一个整体，即必须使用合格的模具，以排除设备以外因素的影响..
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不对吧，PPK应指长期过程性能指数吧，它应该比CPK小，因为过程可以是不稳定的 看来还是只有靠自己
如果CPK考虑的是组内变差
那么CP考虑的是什么呢 就关于CPK与PPK两者谁是长期过程能力指数和短期过程能力指数之前有专门的一个帖子进行投票,结果是各占50%,现在也还是依然在重复这个问题?让我们这不是很深了解的人,止今都未有个正确及比较权威的说法. Cpk使用的前提：过程必须受控，所以受控的情况下要使用的。
Ppk：过程不受控时使用它作为初期判定，例如新产品/Process初期，但最终都要转化受控条件下的Cpk.
公式很多，网上很容易找到。如果想知道多谢，就研究一下公式和SPC方面的资料吧。 [quote]原帖由 [i]一张白纸[/i] 于 2008-8-26 12:14 发表 [url=http://bbs.6sq.net/redirect.php?goto=findpost&pid=2359900&ptid=189642][img]http://bbs.6sq.net/images/common/back.gif[/img][/url]
看来还是只有靠自己
如果CPK考虑的是组内变差
那么CP考虑的是什么呢 [/quote]
Cp Cpk均考虑组内变差，但Cp不考虑过程位置，而Cpk考虑位置偏移，从Cpk=(1-|Ca|)*Cp就可以看出来 cpk是有短期sigma计算的，ppk是有长期sigma计算的
短期sigma是有各个子组的sigma用C4修正后的平均值，
长期sigma是用所有数值求得的 2 楼和4楼说的都对！我这有一个问题：对一个population (总体,即所有生产的产品），我们要分析其过程能力，是用Cpk还是用Ppk? 谢过16楼的，我其实知道CPK是要同时考虑组内和组间的误差，而CP只考虑组内误差，他们两个一个叫长期能力，另一个叫短期能力，而我理解的PPk应该是初期能力，因为它不考虑过程是否受控，而我们计算前面两个都是基于过程受控的前提 [quote]原帖由 [i]一张白纸[/i] 于 2008-8-27 17:32 发表 [url=http://bbs.6sq.net/redirect.php?goto=findpost&pid=2362896&ptid=189642][img]http://bbs.6sq.net/images/common/back.gif[/img][/url]
谢过16楼的，我其实知道CPK是要同时考虑组内和组间的误差，而CP只考虑组内误差，他们两个一个叫长期能力，另一个叫短期能力，而我理解的PPk应该是初期能力，因为它不考虑过程是否受控，而我们计算前面两个都是基于过 ... [/quote]
你.....又考虑错了，Cp Cpk与Pp Ppk的区别你搞混了，我暂将Cp Cpk称为C类指数，将Pp Ppk称P类指数吧，C类指数与P类指数区别在于，C类只考虑了过程子组的组内变差，而P类则考虑一段时期内所有变差，包括组内和组间，也就是总变差；而Cp与Cpk(Pp与Ppk一样)区别在于，Cp只考虑过程变差，而不考虑过程中心位置，Cpk是既考虑过程中心位置，也考虑过程变差。这里中心位置和过程变差也就是正态分布的两个参数，一个u，一个sigma。而短期指数是指的C类指数，P类指数是长期指数，称短期和长期其实也并不是很科学，是一个相对概念，只是用于形象记忆而已。而你所说的初期能力指数，确实，在过程初期我们要用Ppk来表示过程能力，为什么呢？因为过程初期过程处于不稳定状态，组间变差会很大，这样算Cpk与Ppk时你会发现，Cpk比Ppk大的多，这就是过程不稳定的体现，如果用Cpk来描述过程的话，会大大高估过程能力的，这也是为什么只有在过程稳定的时候算Cpk才有意义。
[[i] 本帖最后由 verdy 于 2008-8-27 19:33 编辑 [/i]] [quote]原帖由 [i]rhzhong[/i] 于 2008-8-27 10:27 发表 [url=http://bbs.6sq.net/redirect.php?goto=findpost&pid=2361712&ptid=189642][img]http://bbs.6sq.net/images/common/back.gif[/img][/url]
2 楼和4楼说的都对！我这有一个问题：对一个population (总体,即所有生产的产品），我们要分析其过程能力，是用Cpk还是用Ppk? [/quote]
SPC最重要的是什么？过程，就这样给出一批产品，要分析过程能力，只能用Ppk，为什么不能用Cpk呢，因为就单从一批产品来看根本没有体现抽样，根本就没有体现出短期过程变差，也就是说，无法得出子组，所以基于子组的指数也是无法算的，而Ppk考虑的是过程的总变差，对子组没要求。所以只能用Ppk [quote]原帖由 [i]luoanbaby[/i] 于 2008-8-25 13:15 发表 [url=http://bbs.6sq.net/redirect.php?goto=findpost&pid=2357894&ptid=189642][img]http://bbs.6sq.net/images/common/back.gif[/img][/url]
CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））
Cpk——过程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, ... [/quote]
很不错，看明白了:loveliness: 但是看了众多回帖之后，又晕了。。。:funk: 我可以这样理解么？
在产品刚上线的那段时间。我们按照规定的抽检频率抽取产品纪录数据，每颗产品纪录5个数值。当纪录的数据达到25组，即一共有125个值的时候，我们可以计算X-BAR和R-BAR所需的UCL、CL、LCL，从而形成一张控制图。这时候我们可以利用这125个数据算PPK了，公式是：（USL-平均值）/125个数据的StdDev. 及（平均值-LSL）/125个数据的StdDev.这两个数值中较小的那个。
然后，产线继续收集数据，并把数据的平均值，极差描在控制图上，连续生产3个月，已经基本稳定的时候，这时候仍按照上面的方法求出稳定后的UCL、CL、LCL。此时可以计算CPK了，公式是
：（USL-平均值）/(3R/d2) 及（平均值-LSL）/(3R/d2)这两个数值中较小的那个。
请高手帮忙看看，我这么说对么？？？{V 哎~~~，刚写了半天，写了那么多，电脑蓝屏了，又上来找这个贴子找了半天才找到，真是郁闷
楼上的，我不知道是不是我理解错了，你说每个产品记录5个数据，是指同一个产品测量5次的数据吗？如果是这样，那肯定是错的，同一产品连续量测5次，此变差非过程变差，而是量测系统的随机误差或产品内部变差，SPC最重要的是过程，你这样的子组并没有体现出过程的变差，所以算出的过程能力肯定是有问题的，应该会很大，在SPC中在手册中是这样定义合理子组的：使子组内出现特殊原因变异的机会最小，所以一般子组是要连续取样，或短时间间隔取样，因为此时的变差基本上是过程的偶然的随机的变差。在计算Cp与Cpk时就是用的子组内变差的平均水平。
关于区别，前两天我才问了BV的老师
PPK是性能指数，不代表能力的；只能看数据的分布表现。CPK是过程能力指数，代表能力。
他们的公式不一样，一般同一组数据计算下来，PPK要比CPK小啊！
[[i] 本帖最后由 KALUII 于 2008-8-30 22:44 编辑 [/i]]
回复 1#sjmonkey 的帖子
CPK短期过程能力指数（也叫过程能力指数），必须是在过程稳定的前提下计算。PPK长期过程能力指数，又叫过程性能指数，它的计算不管过程是否处于稳态；
两者δ的计算方式不一致：
cpk的δ=R/d2
ppk的δ=s
cpk计算方法。
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）），cpk分母上是s，而ppk坟墓应该是δ，可以这样计算，统计产品的合格率，然后进行查表，比如，cpk=1.33，那么合格率是99.73，对应的西格玛水平为3。 现在已经不谈长期和短期了！有些教材没有及时更新。 [quote]原帖由 [i]verdy[/i] 于 2008-8-30 22:16 发表 [url=http://bbs.6sq.net/redirect.php?goto=findpost&pid=2368788&ptid=189642][img]http://bbs.6sq.net/images/common/back.gif[/img][/url]哎~~~，刚写了半天，写了那么多，电脑蓝屏了，又上来找这个贴子找了半天才找到，真是郁闷
楼上的，我不知道是不是我理解错了，你说每个产品记录5个数据，是指同一个产品测量5次的数据吗？如果是这样，那肯定是错的 ... [/quote]
我所说的一个产品测5次，怎么说呢，就好比一个产品上焊接了很多个元件，我测试元件推力，这些元件的尺寸什么的都一样，所以他们的spec也是相同的，也就是推力必须大于12g才可以。这应该不是测量系统吧。
我理解的测量系统的误差，应该好比一个游标卡尺，反复测一颗料的某一特定位置，所得的数据。。。
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